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光学仪器综合
光学仪器综合
| 标准号 | 标准名称 |
|---|---|
| GB/T 1185-2006 | 光学零件表面疵病 |
| GB/T 1224-1999 | 几何光学术语、符号 |
| GB/T 1224-2016 | 几何光学术语、符号 |
| GB 1240-1976 | 光学样板 |
| GB/T 1315-1977 | 光学零件薄膜的分类、符号及标注 |
| GB/T 2831-2009 | 光学零件的面形偏差 |
| GB/T 3158-1982 | 光学零件球面半径数值系列 |
| GB/T 4315.1-1984 | 光学传递函数术语、符号 |
| GB/T 4315.1-2009 | 光学传递函数 第1部分：术语、符号 |
| GB/T 4315.2-2009 | 光学传递函数 第2部分：测量导则 |
| GB/T 7242-1987 | 透镜中心误差 |
| GB/T 7242-2010 | 透镜中心偏差 |
| GB/T 7660.1-2013 | 反射棱镜 第1部分：几何特性 |
| GB/T 7660.2-1987 | 反射棱镜 分类、代号与图表 |
| GB/T 7660.2-2013 | 反射棱镜 第2部分：像偏转特性 |
| GB/T 7660.3-1987 | 反射棱镜 像偏转特性 |
| GB/T 7660.3-2013 | 反射棱镜 第3部分：光学平行度及其检验方法 |
| GB/T 7661-1987 | 光学零件气泡度 |
| GB/T 7661-2009 | 光学零件气泡度 |
| GB/T 10050-2009 | 光学和光学仪器 参考波长 |
| GB 10248-1988 | 气体分析 校准用混合气体的制备 静态体积法 |
| GB/T 10248-2005 | 气体分析校准用混合气体的制 备静态体积法 |
| GB/T 10988-2009 | 光学系统杂(散)光测量方法 |
| GB/T 11153-2012 | 激光小功率计性能检测方法 |
| GB/T 11162-2009 | 光学分划零件通用技术条件 |
| GB 11168-1989 | 光学系统像质测试方法 |
| GB/T 11168-2009 | 光学系统像质测试方法 |
| GB 12085.1-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 术语、试验范围 |
| GB/T 12085.1-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围 |
| GB/T 12085.1-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围 |
| GB 12085.2-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 低温、高温、湿热 |
| GB/T 12085.2-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分：低温、高温、湿热 |
| GB/T 12085.2-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第2部分：低温、高温、湿热 |
| GB 12085.3-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 机械作用力 |
| GB/T 12085.3-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第3部分：机械作用力 |
| GB/T 12085.3-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第3部分：机械作用力 |
| GB 12085.4-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 盐雾 |
| GB/T 12085.4-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第4部分：盐雾 |
| GB/T 12085.4-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第4部分：盐雾 |
| GB 12085.5-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 综合低温、低气压 |
| GB/T 12085.5-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分：低温、低气压综合试验 |
| GB 12085.6-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 砂尘 |
| GB/T 12085.6-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第6部分：砂尘 |
| GB/T 12085.6-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第6部分：砂尘 |
| GB 12085.7-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 淋雨 |
| GB/T 12085.7-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第7部分：滴水、淋雨 |
| GB/T 12085.7-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第7部分：滴水、淋雨 |
| GB 12085.8-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 高压、低压、浸没 |
| GB/T 12085.8-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第8部分：高压、低压、浸没 |
| GB/T 12085.8-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第8部分：高内压、低内压、浸没 |
| GB 12085.9-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 太阳辐射 |
| GB/T 12085.9-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第9部分：太阳辐射 |
| GB/T 12085.9-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第9部分：太阳辐射与风化 |
| GB 12085.10-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 综合振动(正弦)与高温、低温 |
| GB/T 12085.10-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分：振动(正弦)与高温、低温综合试验 |
| GB 12085.11-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 长霉 |
| GB/T 12085.11-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第11部分：长霉 |
| GB/T 12085.11-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第11部分：长霉 |
| GB 12085.12-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 污染 |
| GB/T 12085.12-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第12部分：污染 |
| GB/T 12085.12-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第12部分：污染 |
| GB 12085.13-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温 |
| GB/T 12085.13-2010 | 光学和光学仪器环境试验方法第13部分：冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验 |
| GB 12085.14-1989 | 光学和光学仪器 环境试验方法 露、霜、冰 |
| GB/T 12085.14-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第14部分：露、霜、冰 |
| GB/T 12085.14-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第14部分：露、霜、冰 |
| GB/T 12085.15-2010 | 光学和光学仪器环境试验方法第15部分：宽带随机振动（数字控制）与高温、低温综合试验 |
| GB 12085.16-1995 | 光学和光学仪器 环境试验方法 弹跳或恒加速与高温、低温综合试验 |
| GB/T 12085.16-2010 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第16部分：弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验 |
| GB 12085.17-1995 | 光学和光学仪器 环境试验方法 污染与太阳辐射综合试验 |
| GB/T 12085.17-2011 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第17部分污染、太阳辐射综合试验 |
| GB/T 12085.17-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第17部分：污染、太阳辐射综合试验 |
| GB/T 12085.18-2011 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第18部分：湿热、低内压综合试验 |
| GB/T 12085.19-2011 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第19部分：温度周期与正弦振动、随机振动综合试验 |
| GB/T 12085.20-2011 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第20部分：含二氧化硫、硫化氢的湿空气 |
| GB/T 12085.20-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第20部分：含二氧化硫、硫化氢的湿空气 |
| GB/T 12085.21-2011 | 光学和光学仪器 环境试验方法 第21部分：低压与大气温度、高温综合试验 |
| GB/T 12085.22-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第22部分：低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验 |
| GB/T 12085.23-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第23部分：低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验 |
| GB 13323-1991 | 光学制图 |
| GB/T 13323-2009 | 光学制图 |
| GB/T 13742-2009 | 光学传递函数测量准确度 |
| GB/T 13962-2009 | 光学仪器术语 |
| GB/T 16492-1996 | 光学和光学仪器 环境要求 总则、定义、气候带及其参数 |
| GB/Z 21738-2008 | 一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法 |
| GB/T 26328-2010 | 生物化学分析仪器用干涉滤光片 |
| GB/T 26331-2010 | 光学薄膜元件环境适应性试验方法 |
| GB/T 26332.1-2010 | 光学和光学仪器 光学薄膜 第1部分：定义 |
| GB/T 26332.1-2018 | 光学和光子学 光学薄膜 第1部分：定义 |
| GB/T 26332.2-2015 | 光学和光子学光学薄膜 第2部分：光学特性 |
| GB/T 26332.3-2015 | 光学和光子学光学薄膜 第3部分：环境适应性 |
| GB/T 26332.4-2015 | 光学和光子学光学薄膜 第4部分：规定的试验方法 |
| GB/T 26332.5-2022 | 光学和光子学 光学薄膜 第5部分：减反射膜基本要求 |
| GB/T 26332.6-2022 | 光学和光子学 光学薄膜 第6部分：反射膜基本要求 |
| GB/T 26332.7-2022 | 光学和光子学 光学薄膜 第7部分：中性分束膜基本要求 |
| GB/T 26332.8-2022 | 光学和光子学 光学薄膜 第8部分：激光光学薄膜基本要求 |
| GB/T 26598-2011 | 光学仪器用透明导电薄膜规范 |
| GB/T 26827-2011 | 波片相位延迟测量装置的校准方法 |
| GB/T 26828-2011 | 多光谱减反射膜规范 |
| GB/T 26829-2011 | 脉冲激光测距仪测距参数的室内测试方法 |
| GB/T 27660-2011 | 光学传递函数 用于办公复印机用镜头 |
| GB/T 27667-2011 | 光学系统像质评价 畸变的测定 |
| GB/T 27668.1-2011 | 显微术术语 第1部分：光学显微术 |
| GB/T 31010-2014 | 色散型高光谱遥感器实验室光谱定标 |
| GB/T 31010-2014 | (EN)Spectral calibration in laboratory for dispersive hyperspectral sensor |
| GB/T 37969-2019 | 近红外光谱定性分析通则 |
| GB/T 44436-2024 | 软X射线-极紫外波段空间成像仪器实验室检测与定标方法 |
| GB/T 44436-2024 | (EN)Laboratory testing and calibration methods for soft X-ray to extreme ultraviolet band space imaging instrument |
| GB/T 47174-2026 | 光纤传感技术术语 |
| JB/T 5474-1991 | 光学零件镀膜 偏振膜 |
| JB/T 5475-1991 | 网格板 |
| JB 5517-1991 | 光学仪器 电气防护基本安全要求 |
| JB/T 5589-1991 | 光学零件镀膜 高反射膜 |
| JB/T 6179-1992 | 光学零件薄膜 分类、符号及标注 |
| JB/T 6266-1992 | 光学测角比较仪基本参数 |
| JB/T 7398.4-1994 | 显微镜 成象接口 |
| JB/T 7484-2007 | 铝（Al）反射镜镀制工艺 |
| JB/T 8226.2-1999 | 光学零件镀膜 水解法镀双层减反射膜 |
| JB/T 8226.3-1999 | 光学零件镀膜 外反射膜 |
| JB/T 8226.4-1999 | 光学零件镀膜 内反射膜 |
| JB/T 8226.5-1999 | 光学零件镀膜 中性滤光膜 |
| JB/T 8226.6-1999 | 光学零件镀膜 窄带干涉滤光膜 |
| JB/T 8226.8-1999 | 光学零件镀膜 截止滤光膜 |
| JB/T 8237-1999 | 直角棱镜 |
| JB/T 8238-1999 | 光学仪器用齿纹 |
| JB/T 8240-1999 | 光学仪器用目镜螺纹 |
| JB/T 8379-1996 | 光学仪器通用技术条件 |
| JB/T 9310-1999 | 光学偏振片 技术条件 |
| JB/T 9311-1999 | 光学仪器 产品型号命名方法 |
| JB/T 9312-1999 | 光学零件 包装 |
| JB/T 9313-1999 | 光学仪器特种细牙螺纹 |
| JB/T 9328-1999 | 分辨力板 |
| JB/T 9330-1999 | 光学仪器用可变光阑片 基本参数 |
| JB/T 9348.1-1999 | 光学仪器防霉、防雾、防锈 试验方法 |
| JB/T 9348.2-1999 | 光学仪器防霉、防雾、防锈 技术要求 |
| JB/T 9350-1999 | 光学仪器用玻璃分划尺 技术要求 |
| JB/T 9399-1999 | X射线分析仪器主参数系列 |
| JB/T 9399-2010 | X射线分析仪器主参数系列 |
| JB/T 9495.3-1999 | 光学晶体透过率测量方法 |
| JB/T 11532-2013 | 线性渐变中性密度滤光片 |
| JB/T 12933-2016 | 红外特征敏感滤光元件 |
| JB/T 13358-2018 | 光学薄膜带通干涉滤光片 |
| JB/T 13360-2018 | 荧光检测分析用干涉滤光片 |
| JB/T 13361-2018 | 紫外、可见和近红外光学滤光片 |
